Tabla de Contenidos
- 1. Descripción General del Producto
- 2. Análisis en Profundidad de Parámetros Técnicos
- 2.1 Límites Absolutos Máximos
- 2.2 Características Eléctricas
- 2.3 Características Térmicas
- 3. Análisis de Curvas de Rendimiento
- 3.1 Características VF-IF
- 3.2 Características VR-IR
- 3.3 Características VR-Ct
- 3.4 Corriente Directa Máxima vs. Temperatura de Cápsula
- 3.5 Impedancia Térmica Transitoria
- 4. Información Mecánica y de Cápsula
- 4.1 Configuración de Pines y Polaridad
- 4.2 Dimensiones y Contorno de la Cápsula
- 4.3 Distribución Recomendada de Pads en PCB
- 5. Directrices de Montaje y Manipulación
- 5.1 Par de Apriete para Montaje
- 5.2 Condiciones de Almacenamiento
- 6. Recomendaciones de Aplicación
- 6.1 Circuitos de Aplicación Típicos
- 6.2 Consideraciones Críticas de Diseño
- 7. Comparativa Técnica y Ventajas
- 8. Preguntas Frecuentes (FAQs)
- 8.1 ¿Qué significa "prácticamente sin pérdidas de conmutación"?
- 8.2 ¿Por qué la cápsula está conectada al cátodo?
- 8.3 ¿Cómo calculo la pérdida de potencia en este diodo?
- 8.4 ¿Puedo usar este diodo para reemplazar directamente un diodo de silicio?
- 9. Estudio de Caso de Diseño y Uso
- 10. Introducción al Principio de Funcionamiento
- 11. Tendencias Tecnológicas
1. Descripción General del Producto
Este documento detalla las especificaciones de un diodo de barrera Schottky (SBD) de alto rendimiento de Carburo de Silicio (SiC), alojado en una cápsula TO-247-2L. El dispositivo está diseñado para aplicaciones de electrónica de potencia que requieren alta eficiencia, operación a alta frecuencia y un rendimiento térmico superior. Su función principal es proporcionar un flujo de corriente unidireccional con pérdidas de conmutación mínimas y carga de recuperación inversa insignificante, una ventaja significativa sobre los diodos de unión PN de silicio tradicionales.
El posicionamiento principal de este componente está dentro de sistemas avanzados de conversión de potencia donde la eficiencia y la densidad de potencia son críticas. Sus ventajas fundamentales provienen de las propiedades intrínsecas del Carburo de Silicio, que permiten operar a temperaturas, tensiones y frecuencias de conmutación más altas en comparación con los dispositivos basados en silicio. Los mercados objetivo incluyen fuentes de alimentación industriales, sistemas de energía renovable y aplicaciones de accionamiento de motores, donde estas características se traducen directamente en beneficios a nivel de sistema.
2. Análisis en Profundidad de Parámetros Técnicos
2.1 Límites Absolutos Máximos
Los límites absolutos máximos definen los umbrales de estrés más allá de los cuales puede ocurrir un daño permanente en el dispositivo. No están destinados para la operación normal.
- Tensión Inversa Repetitiva de Pico (VRRM):650V. Esta es la tensión inversa instantánea máxima que se puede aplicar de forma repetitiva.
- Corriente Directa Continua (IF):10A. Esta es la corriente continua máxima que el diodo puede conducir de forma continua, limitada por la temperatura máxima de unión y la resistencia térmica.
- Corriente de Sobrecarga No Repetitiva (IFSM):30A. Esta especificación indica la capacidad del diodo para soportar un único evento de sobrecarga de alta corriente (onda sinusoidal de media onda de 10ms) sin fallar, lo cual es crucial para manejar corrientes de arranque o condiciones de fallo.
- Temperatura de Unión (TJ):175°C. La temperatura máxima permitida de la propia unión semiconductor.
- Temperatura de Almacenamiento (TSTG):-55°C a +175°C.
2.2 Características Eléctricas
Estos parámetros definen el rendimiento del dispositivo bajo condiciones de prueba especificadas.
- Tensión Directa (VF):Típicamente 1.48V a IF=10A, TJ=25°C, con un máximo de 1.85V. Esta baja VF es una característica clave de los diodos Schottky de SiC, lo que conduce a una reducción de las pérdidas por conducción. Nótese que VF aumenta con la temperatura, alcanzando aproximadamente 1.9V a TJ=175°C.
- Corriente de Fuga Inversa (IR):Típicamente 2µA a VR=520V, TJ=25°C, con un máximo de 60µA. La fuga aumenta con la temperatura, una característica que debe considerarse en diseños de alta temperatura.
- Carga Capacitiva Total (QC):15nC (típico) a VR=400V. Este es un parámetro crítico para el cálculo de pérdidas por conmutación. El bajo valor de QC significa que se almacena muy poca energía en la capacitancia de unión del diodo, la cual debe disiparse durante cada ciclo de conmutación, lo que conduce a "prácticamente sin pérdidas de conmutación" como se indica en los beneficios.
- Energía Almacenada en la Capacitancia (EC):2.2µJ (típico) a VR=400V. Esta es la energía almacenada en la capacitancia del diodo a la tensión especificada, directamente relacionada con QC.
2.3 Características Térmicas
La gestión térmica es primordial para una operación confiable y para alcanzar el rendimiento nominal.
- Resistencia Térmica, Unión a Cápsula (RθJC):1.7°C/W (típico). Este valor bajo indica una excelente transferencia de calor desde el chip semiconductor a la cápsula del dispositivo, permitiendo que el calor se disipe eficientemente a través de un disipador de calor unido a la cápsula. La disipación de potencia total (PD) nominal de 88W a TC=25°C se deriva de este parámetro y de la temperatura máxima de unión.
3. Análisis de Curvas de Rendimiento
La hoja de datos incluye varias curvas características esenciales para los ingenieros de diseño.
3.1 Características VF-IF
Este gráfico representa la tensión directa frente a la corriente directa, típicamente a múltiples temperaturas de unión (ej., 25°C y 175°C). Demuestra visualmente la baja caída de tensión directa y su coeficiente de temperatura positivo. El coeficiente de temperatura positivo es un rasgo beneficioso para la operación en paralelo, ya que promueve el reparto de corriente y previene la fuga térmica.
3.2 Características VR-IR
Esta curva muestra la relación entre la tensión inversa y la corriente de fuga inversa, nuevamente a diferentes temperaturas. Destaca cómo la corriente de fuga se mantiene relativamente baja hasta acercarse a la región de ruptura y cómo aumenta exponencialmente con la temperatura.
3.3 Características VR-Ct
Este gráfico ilustra cómo la capacitancia total del diodo (Ct) disminuye al aumentar la tensión de polarización inversa (VR). Esta capacitancia no lineal es un factor clave en el comportamiento de conmutación de alta frecuencia.
3.4 Corriente Directa Máxima vs. Temperatura de Cápsula
Esta curva de desclasificación muestra cómo la corriente directa continua máxima permitida (IF) disminuye a medida que aumenta la temperatura de la cápsula (TC). Es una herramienta crucial para determinar el rendimiento necesario del disipador de calor para una corriente de aplicación dada.
3.5 Impedancia Térmica Transitoria
La curva de resistencia térmica transitoria frente al ancho de pulso (ZθJC vs. PW) es vital para evaluar el rendimiento térmico bajo condiciones de corriente pulsada. Muestra que para pulsos muy cortos, la resistencia térmica efectiva es menor que la RθJC en estado estacionario, permitiendo corrientes de pico más altas.
4. Información Mecánica y de Cápsula
4.1 Configuración de Pines y Polaridad
El dispositivo utiliza una cápsula TO-247-2L con dos terminales. El Pin 1 es el Cátodo (K) y el Pin 2 es el Ánodo (A). Es importante destacar que la pestaña metálica o la cápsula del paquete está conectada eléctricamente al Cátodo. Esto debe considerarse cuidadosamente durante el montaje para evitar cortocircuitos, ya que la cápsula debe aislarse del disipador de calor a menos que el disipador esté al potencial del cátodo.
4.2 Dimensiones y Contorno de la Cápsula
Se proporcionan dibujos mecánicos detallados con todas las dimensiones críticas en milímetros. Esto incluye la longitud total, el ancho, la altura, el espaciado de los terminales, el diámetro de los terminales y las dimensiones del orificio de montaje en la pestaña. El cumplimiento de estas dimensiones es necesario para un diseño adecuado de la huella en el PCB y el ensamblaje mecánico.
4.3 Distribución Recomendada de Pads en PCB
Se incluye una huella sugerida para el montaje superficial de los terminales (después de formarlos), especificando el tamaño, la forma y el espaciado de los pads para garantizar una soldadura confiable y resistencia mecánica.
5. Directrices de Montaje y Manipulación
5.1 Par de Apriete para Montaje
El par de apriete especificado para el tornillo utilizado para fijar el dispositivo a un disipador de calor es de 8.8 N·m (o su equivalente en lbf·in) para un tornillo M3 o 6-32. Aplicar el par correcto garantiza un contacto térmico óptimo sin dañar la cápsula.
5.2 Condiciones de Almacenamiento
Los dispositivos deben almacenarse dentro del rango de temperatura de almacenamiento especificado de -55°C a +175°C en un ambiente seco y no corrosivo. Deben observarse las precauciones estándar contra descargas electrostáticas (ESD) durante la manipulación, ya que la barrera Schottky es sensible a daños por electricidad estática.
6. Recomendaciones de Aplicación
6.1 Circuitos de Aplicación Típicos
- Corrección del Factor de Potencia (PFC):Se utiliza como diodo de elevación en circuitos PFC de modo de conducción continua (CCM). Su conmutación rápida y baja QC minimizan las pérdidas de apagado, permitiendo frecuencias de conmutación más altas, lo que reduce el tamaño de los componentes magnéticos.
- Inversores Solares:Se emplea en la etapa de elevación o dentro del puente inversor. La alta eficiencia reduce la pérdida de potencia, y la capacidad de alta temperatura mejora la fiabilidad en entornos exteriores.
- Accionamientos de Motores:Se utiliza en las posiciones de diodo de libre circulación o de sujeción en puentes inversores que accionan motores. La ausencia de corriente de recuperación inversa reduce los picos de tensión y la EMI, y mejora la eficiencia del accionamiento.
- Sistemas de Alimentación Ininterrumpida (SAI) y Fuentes de Alimentación para Centros de Datos:Se aplican beneficios similares en las etapas de conversión de potencia de alta densidad y alta eficiencia de estos sistemas.
6.2 Consideraciones Críticas de Diseño
- Disipación de Calor:Debido a la alta capacidad de disipación de potencia, es obligatorio un disipador de calor adecuado para operar a corrientes altas. La resistencia térmica de la cápsula al ambiente (RθCA) proporcionada por el disipador debe calcularse en función de la temperatura ambiente máxima, la pérdida de potencia y el margen de temperatura de unión deseado.
- Dispositivos en Paralelo:El coeficiente de temperatura positivo de VF facilita el reparto de corriente cuando se conectan múltiples diodos en paralelo. Sin embargo, aún se recomienda un diseño cuidadoso para garantizar inductancia y resistencia parásitas simétricas para un reparto óptimo.
- Circuitos Snubber:Aunque el diodo prácticamente no tiene recuperación inversa, la inductancia parásita del circuito aún puede causar sobretensión durante el apagado. Pueden ser necesarios circuitos snubber o un diseño cuidadoso para minimizar la inductancia del bucle en aplicaciones con di/dt muy altas.
- Consideraciones de la Conducción de Puerta (para los interruptores asociados):La conmutación rápida de este diodo puede provocar altos di/dt y dv/dt, lo que puede causar acoplamiento de ruido en los circuitos de conducción de puerta. Un apantallamiento adecuado y un diseño cuidadoso de la conducción de puerta son importantes.
7. Comparativa Técnica y Ventajas
En comparación con los diodos de recuperación rápida de silicio estándar (FRD) o incluso con los diodos Schottky de barrera de unión (JBS) de carburo de silicio, este diodo Schottky de SiC ofrece ventajas distintivas:
- Recuperación Inversa Cero:La barrera Schottky es un dispositivo de portadores mayoritarios, eliminando el tiempo de almacenamiento de portadores minoritarios y la corriente de recuperación inversa asociada (Qrr) y las pérdidas que se observan en los diodos de unión PN. Esta es su ventaja más significativa.
- Temperatura de Operación Más Alta:El material SiC permite una temperatura máxima de unión de 175°C, superior a la de los diodos de silicio típicos, lo que permite operar en entornos más severos o con disipadores de calor más pequeños.
- Caída de Tensión Directa Más Baja:A corrientes de operación típicas, la VF es más baja que la de los FRD de silicio de tensión nominal comparable, reduciendo las pérdidas por conducción.
- Capacidad de Frecuencia de Conmutación Más Alta:La combinación de baja QC y ausencia de Qrr permite una operación eficiente a frecuencias mucho más altas, lo que conduce directamente a componentes pasivos más pequeños (inductores, capacitores) y a una mayor densidad de potencia.
8. Preguntas Frecuentes (FAQs)
8.1 ¿Qué significa "prácticamente sin pérdidas de conmutación"?
Se refiere a la pérdida por recuperación inversa insignificante. Si bien todavía existe una pérdida de conmutación capacitiva (relacionada con QC y EC), la ausencia total de la pérdida por recuperación inversa mucho mayor asociada con los diodos de silicio significa que la pérdida total de conmutación es drásticamente menor, a menudo un orden de magnitud menos.
8.2 ¿Por qué la cápsula está conectada al cátodo?
Este es un diseño común en cápsulas de potencia para simplificar las conexiones internas y mejorar el rendimiento térmico. Significa que el disipador de calor debe estar eléctricamente aislado del resto del sistema a menos que se mantenga intencionalmente al potencial del cátodo. Se requieren arandelas aislantes y material de interfaz térmica con alta rigidez dieléctrica.
8.3 ¿Cómo calculo la pérdida de potencia en este diodo?
La pérdida de potencia total (PD) es la suma de la pérdida por conducción y la pérdida por conmutación. Pérdida por conducción = IF(PROM) * VF. Pérdida por conmutación ≈ (1/2) * C * V^2 * f (para pérdida capacitiva), donde C es la capacitancia efectiva, V es la tensión de bloqueo y f es la frecuencia de conmutación. El componente de pérdida Qrr es cero.
8.4 ¿Puedo usar este diodo para reemplazar directamente un diodo de silicio?
Eléctricamente, en términos de tensión y corriente nominal, a menudo sí. Sin embargo, la conmutación más rápida puede exponer las parásitas del circuito, causando potencialmente picos de tensión más altos. La conducción de puerta del dispositivo de conmutación asociado (ej., MOSFET) puede necesitar revisión para la inmunidad al ruido. El diseño térmico también debe reevaluarse ya que el perfil de pérdidas es diferente.
9. Estudio de Caso de Diseño y Uso
Escenario:Actualización de la etapa de elevación de un Corrector de Factor de Potencia (PFC) de Modo de Conducción Continua (CCM) de 2kW, de un diodo ultrafast de silicio a este diodo Schottky de SiC. El diseño original opera a 100kHz.
Análisis:El diodo de silicio tenía un Qrr de 50nC y una VF de 1.8V. La pérdida por conmutación era significativa. Al reemplazarlo con el diodo de SiC (QC=15nC, VF=1.48V), se logran las siguientes mejoras:
- Reducción de la Pérdida por Conmutación:Se elimina la pérdida por Qrr. La pérdida de conmutación capacitiva se reduce debido a la menor QC.
- Reducción de la Pérdida por Conducción:Una VF más baja reduce la pérdida por conducción aproximadamente en un 18% para la misma corriente promedio.
- Potencial de Aumento de Frecuencia:La pérdida total de conmutación drásticamente menor permite al diseñadoraumentar la frecuencia de conmutacióna 200-300kHz. Esto reduce el tamaño y el peso del inductor de elevación y de los componentes del filtro EMI en casi un 50%, logrando directamente un "aumento de la densidad de potencia".
- Gestión Térmica:La pérdida de potencia total en el diodo es menor. Combinado con su mayor temperatura nominal de unión, esto puede permitir una reducción en el tamaño del disipador de calor ("reducción del requisito de disipador"), ahorrando aún más coste y espacio.
Resultado:La eficiencia del sistema mejora entre un 1-2% a plena carga, la densidad de potencia aumenta y el coste del sistema puede disminuir debido a componentes magnéticos y refrigeración más pequeños.
10. Introducción al Principio de Funcionamiento
Un diodo Schottky se forma mediante una unión metal-semiconductor, a diferencia de la unión semiconductor P-N de un diodo estándar. En este diodo Schottky de SiC, se hace un contacto metálico directamente con Carburo de Silicio tipo n. Esto crea una barrera Schottky que permite que la corriente fluya fácilmente en la dirección directa cuando se aplica un sesgo positivo al metal (ánodo) en relación con el semiconductor (cátodo).
La diferencia operativa clave radica en la recuperación inversa. En un diodo PN, apagarlo requiere la eliminación de los portadores minoritarios almacenados (un proceso llamado recuperación inversa), lo que lleva tiempo y crea un pulso de corriente inversa significativo. En un diodo Schottky, la corriente es transportada solo por portadores mayoritarios (electrones en SiC tipo n). Cuando la tensión se invierte, estos portadores son barridos casi instantáneamente, lo que resulta en ningún tiempo de almacenamiento de portadores minoritarios y, por lo tanto, en "recuperación inversa cero". Este principio fundamental es lo que permite la conmutación de alta velocidad y las bajas pérdidas de conmutación.
11. Tendencias Tecnológicas
Los dispositivos de potencia de Carburo de Silicio representan una tendencia importante en la electrónica de potencia, permitiendo la transición desde los componentes tradicionales basados en silicio. Los impulsores del mercado son el impulso global por una mayor eficiencia energética, una mayor densidad de potencia y la electrificación del transporte y la industria.
La evolución de los diodos Schottky de SiC se centra en varias áreas clave: reducir aún más la resistencia específica en conducción (lo que se traduce en una VF más baja), mejorar la fiabilidad y estabilidad de la interfaz metal-semiconductor Schottky a altas temperaturas, aumentar la tensión nominal a 1.2kV, 1.7kV y más allá para aplicaciones de media tensión, y reducir la capacitancia del dispositivo (Coss, QC) para permitir frecuencias de conmutación de varios MHz. La integración es otra tendencia, con el co-encapsulado de diodos Schottky de SiC con MOSFETs de SiC en módulos para crear etapas de potencia altamente eficientes y de conmutación rápida. A medida que aumentan los volúmenes de fabricación y disminuyen los costes, la tecnología SiC se está trasladando constantemente de aplicaciones premium a productos de conversión de potencia convencionales.
Terminología de especificaciones LED
Explicación completa de términos técnicos LED
Rendimiento fotoeléctrico
| Término | Unidad/Representación | Explicación simple | Por qué es importante |
|---|---|---|---|
| Eficacia luminosa | lm/W (lúmenes por vatio) | Salida de luz por vatio de electricidad, más alto significa más eficiencia energética. | Determina directamente el grado de eficiencia energética y el costo de electricidad. |
| Flujo luminoso | lm (lúmenes) | Luz total emitida por la fuente, comúnmente llamada "brillo". | Determina si la luz es lo suficientemente brillante. |
| Ángulo de visión | ° (grados), por ejemplo, 120° | Ángulo donde la intensidad de la luz cae a la mitad, determina el ancho del haz. | Afecta el rango de iluminación y uniformidad. |
| CCT (Temperatura de color) | K (Kelvin), por ejemplo, 2700K/6500K | Calidez/frescura de la luz, valores más bajos amarillentos/cálidos, más altos blanquecinos/fríos. | Determina la atmósfera de iluminación y escenarios adecuados. |
| CRI / Ra | Sin unidad, 0–100 | Capacidad de representar colores de objetos con precisión, Ra≥80 es bueno. | Afecta la autenticidad del color, se usa en lugares de alta demanda como centros comerciales, museos. |
| SDCM | Pasos de elipse MacAdam, por ejemplo, "5 pasos" | Métrica de consistencia de color, pasos más pequeños significan color más consistente. | Asegura color uniforme en el mismo lote de LEDs. |
| Longitud de onda dominante | nm (nanómetros), por ejemplo, 620nm (rojo) | Longitud de onda correspondiente al color de LEDs coloreados. | Determina el tono de LEDs monocromáticos rojos, amarillos, verdes. |
| Distribución espectral | Curva longitud de onda vs intensidad | Muestra distribución de intensidad a través de longitudes de onda. | Afecta la representación del color y calidad. |
Parámetros eléctricos
| Término | Símbolo | Explicación simple | Consideraciones de diseño |
|---|---|---|---|
| Voltaje directo | Vf | Voltaje mínimo para encender LED, como "umbral de inicio". | El voltaje del controlador debe ser ≥Vf, los voltajes se suman para LEDs en serie. |
| Corriente directa | If | Valor de corriente para operación normal de LED. | Generalmente accionamiento de corriente constante, la corriente determina brillo y vida útil. |
| Corriente de pulso máxima | Ifp | Corriente pico tolerable por períodos cortos, se usa para atenuación o destello. | El ancho de pulso y ciclo de trabajo deben controlarse estrictamente para evitar daños. |
| Voltaje inverso | Vr | Máximo voltaje inverso que LED puede soportar, más allá puede causar ruptura. | El circuito debe prevenir conexión inversa o picos de voltaje. |
| Resistencia térmica | Rth (°C/W) | Resistencia a la transferencia de calor desde chip a soldadura, más bajo es mejor. | Alta resistencia térmica requiere disipación de calor más fuerte. |
| Inmunidad ESD | V (HBM), por ejemplo, 1000V | Capacidad de soportar descarga electrostática, más alto significa menos vulnerable. | Se necesitan medidas antiestáticas en producción, especialmente para LEDs sensibles. |
Gestión térmica y confiabilidad
| Término | Métrica clave | Explicación simple | Impacto |
|---|---|---|---|
| Temperatura de unión | Tj (°C) | Temperatura de operación real dentro del chip LED. | Cada reducción de 10°C puede duplicar la vida útil; demasiado alto causa decaimiento de luz, cambio de color. |
| Depreciación de lúmenes | L70 / L80 (horas) | Tiempo para que el brillo caiga al 70% u 80% del inicial. | Define directamente la "vida de servicio" del LED. |
| Mantenimiento de lúmenes | % (por ejemplo, 70%) | Porcentaje de brillo retenido después del tiempo. | Indica retención de brillo durante uso a largo plazo. |
| Cambio de color | Δu′v′ o elipse MacAdam | Grado de cambio de color durante el uso. | Afecta la consistencia del color en escenas de iluminación. |
| Envejecimiento térmico | Degradación de material | Deterioro debido a alta temperatura a largo plazo. | Puede causar caída de brillo, cambio de color o falla de circuito abierto. |
Embalaje y materiales
| Término | Tipos comunes | Explicación simple | Características y aplicaciones |
|---|---|---|---|
| Tipo de paquete | EMC, PPA, Cerámica | Material de alojamiento que protege el chip, proporciona interfaz óptica/térmica. | EMC: buena resistencia al calor, bajo costo; Cerámica: mejor disipación de calor, vida más larga. |
| Estructura del chip | Frontal, Flip Chip | Disposición de electrodos del chip. | Flip chip: mejor disipación de calor, mayor eficacia, para alta potencia. |
| Revestimiento de fósforo | YAG, Silicato, Nitruro | Cubre el chip azul, convierte algo a amarillo/rojo, mezcla a blanco. | Diferentes fósforos afectan eficacia, CCT y CRI. |
| Lente/Óptica | Plana, Microlente, TIR | Estructura óptica en superficie que controla distribución de luz. | Determina el ángulo de visión y curva de distribución de luz. |
Control de calidad y clasificación
| Término | Contenido de clasificación | Explicación simple | Propósito |
|---|---|---|---|
| Clasificación de flujo luminoso | Código por ejemplo 2G, 2H | Agrupado por brillo, cada grupo tiene valores mín/máx de lúmenes. | Asegura brillo uniforme en el mismo lote. |
| Clasificación de voltaje | Código por ejemplo 6W, 6X | Agrupado por rango de voltaje directo. | Facilita emparejamiento de controlador, mejora eficiencia del sistema. |
| Clasificación de color | Elipse MacAdam de 5 pasos | Agrupado por coordenadas de color, asegurando rango estrecho. | Garantiza consistencia de color, evita color desigual dentro del accesorio. |
| Clasificación CCT | 2700K, 3000K etc. | Agrupado por CCT, cada uno tiene rango de coordenadas correspondiente. | Satisface diferentes requisitos CCT de escena. |
Pruebas y certificación
| Término | Estándar/Prueba | Explicación simple | Significado |
|---|---|---|---|
| LM-80 | Prueba de mantenimiento de lúmenes | Iluminación a largo plazo a temperatura constante, registrando decaimiento de brillo. | Se usa para estimar vida LED (con TM-21). |
| TM-21 | Estándar de estimación de vida | Estima vida bajo condiciones reales basado en datos LM-80. | Proporciona predicción científica de vida. |
| IESNA | Sociedad de Ingeniería de Iluminación | Cubre métodos de prueba ópticos, eléctricos, térmicos. | Base de prueba reconocida por la industria. |
| RoHS / REACH | Certificación ambiental | Asegura que no haya sustancias nocivas (plomo, mercurio). | Requisito de acceso al mercado internacionalmente. |
| ENERGY STAR / DLC | Certificación de eficiencia energética | Certificación de eficiencia energética y rendimiento para iluminación. | Usado en adquisiciones gubernamentales, programas de subsidios, mejora competitividad. |