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碳化硅肖特基二极管 TO-252-3L 规格书 - 封装尺寸 6.6x9.84x2.3mm - 电压 650V - 电流 6A - 中文技术文档

本文件提供了一款采用TO-252-3L(DPAK)封装的650V/6A碳化硅肖特基二极管的完整技术规格书,详细说明了电气特性、热性能、封装尺寸及应用指南。
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1. 产品概述

本文档提供了一款高性能碳化硅肖特基势垒二极管的完整规格。该器件采用表面贴装TO-252-3L(通常称为DPAK)封装,为高频、高效率功率转换电路提供了可靠的解决方案。与传统的硅PN结二极管不同,此碳化硅肖特基二极管采用金属-半导体结,从根本上消除了反向恢复电荷,这是电力系统中开关损耗和电磁干扰的主要来源。

该元件的核心优势在于其材料特性。与硅相比,碳化硅具有更宽的带隙、更高的热导率和更高的临界电场强度。这些材料优势直接转化为二极管的性能:它可以在更高的电压、更高的温度下工作,并显著降低开关损耗。该器件的目标市场是现代电力电子应用,其中效率、功率密度和可靠性至关重要。

1.1 主要特性与优势

该器件集成了多项先进特性,为系统设计带来显著优势:

2. 深入技术参数分析

本节对规格书中指定的关键电气和热参数提供详细、客观的解读。理解这些参数对于可靠的电路设计至关重要。

2.1 绝对最大额定值

这些额定值定义了可能对器件造成永久性损坏的极限。不保证在或超过这些极限条件下运行。

2.2 电气特性

这些是在指定测试条件下的典型和最大/最小保证性能参数。

3. 热特性

有效的热管理对于实现器件的电流额定值和长期可靠性至关重要。

4. 性能曲线分析

典型性能曲线图直观地展示了器件在各种工作条件下的行为。

4.1 VF-IF 特性曲线

此图显示了不同结温下正向压降与正向电流的关系。关键观察结果:在工作范围内曲线相对线性,证实了其肖特基特性。压降随电流和温度增加而增加。此图用于估算导通损耗(Pcond = VF * IF)。

4.2 VR-IR 特性曲线

此图绘制了反向漏电流与反向电压的关系,通常在多个温度下。它展示了漏电流随电压和温度呈指数增长。这对于评估高压阻断状态下的待机损耗和热稳定性至关重要。

4.3 最大 IF-TC 特性曲线

此降额曲线显示了最大允许连续正向电流如何随外壳温度(TC)升高而降低。它由公式推导得出:IF(max) = sqrt((TJ,max - TC) / (Rth(JC) * VF))。设计人员必须使用此图来选择适当的散热或PCB布局,以维持足够低的外壳温度来满足所需电流。

4.4 瞬态热阻曲线

此图显示了热阻抗(Zth)作为脉冲宽度的函数。对于短电流脉冲,有效热阻低于稳态Rth(JC),因为热量没有时间扩散到整个系统。此图对于评估二极管对重复开关电流或短时浪涌事件的热响应至关重要。

5. 机械与封装信息

5.1 封装外形与尺寸

该器件采用TO-252-3L(DPAK)表面贴装封装。规格书中的关键尺寸包括:

所有公差均已指定,设计人员必须参考详细图纸进行PCB焊盘设计。

5.2 引脚配置与极性

该封装有三个外部连接:两个引脚和一个裸露的散热焊盘。